使用X-Ray 膜厚計的特色：
1. 此儀器為非接觸、非破壞的方式來測量，不會破壞樣品表面
2. 可以測量大部分之金屬的電鍍膜厚，使用非常廣泛
3. 測量時間由1〜999秒，可以隨時變更測量時間
4. 一次測量即可得到單層或多層膜厚數據
5. 可以測量合金層的膜厚及成份比率
6. 使用中文電腦操作系統，讓操作員非常方便易懂
7. 資料處理功能非常強，可以作各式的統計處理和品質管理
8. 可提供多元化的測試報告並可列印給客戶存檔
9. 可以把樣品外型照相並可將圖片顯示在報表上
10. 有五種測量孔徑可以變換，可以測量各種形狀及微小樣品
11. 由能譜分析可以作簡易材料判別
12. 有鎖匙控制X-Ray 輸出及自動斷電安全功能，使用及管理非常安全方便