膜厚计(测厚仪)

东莞微光电子

主营产品：电解式膜厚计日本电测测厚仪电解液荧光X线膜厚计测厚镀液实用型电解式测厚仪

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	电解式（库化）测厚仪 DJH-E电解式测厚仪	型号：DJH-E电解式测厚仪测量镀种：金（不含K金）、银、锡、锌、铜（不含锌合金上铜镀层）、镍、铬有其它镀层/基体组合，可联系生产商改装测厚仪测量范围：0-35um（更厚镀层也可测量，误差会逐渐变大）测量误差：小于等于正负10% 分辨率：装饰铬、金为0.01um,其他镀层为0.1um 测试胶头尺寸：规格代码规格代码直径2.4mm (360001) 直径1.7mm （360002）直径1.2mm (360003) 直径1.0mm （360004）直径0.8mm (360005) 1.51.5mm （360006）电源：AC 220V正负10%，50-60Hz 功率：不大于25W 毛重：约8KG 包装箱尺寸：415375*220mm
	超音波测厚仪 PosiTector 100-B	超音波测厚仪 PosiTector 100-B
	印表型膜厚计 LE200J/LH200J/LZ200J	印表型膜厚计:量测范围：电磁式0~1500μm／涡电流式0~800μm 最小读值：100μm以下0.1μm ／100μm以上1μm 量测精度：未满50μm时±1μm ／50μm以上时±2% 特殊功能：具单点测定及连续扫描检测功能具统计平均功能，可记忆多组校正值具打印机，可直接将测定结果输出
	统计型370系列膜厚计 370系列（LE370/LH370/LZ370	统计型370系列膜厚计量测范围：电磁式0~2500μm／涡电流式0~1200μm 最小读值：100μm以下0.1μm ／100μm以上1μm 量测精度：未满50μm时±1μm ／50μm以上1000μm以下时±2%／1000μm以上时±3% 具统计平均功能，可记忆多组校正值，可将测定值输出
	专用测量台 LW-990	专用测量台提供使用者在测量管状，曲面的样品镀层厚度时，以固定的压力，测量角度来进行量测工作，大大提高了测量结果的精准度与重复性，降低人为的操作误差
	接触式膜厚计 LZ-990	接触式膜厚计电磁式：磁性金属（铁、钢）上之非磁性被膜测定涡电流式：非磁性金属（铝、不锈钢）上之絶缘被膜的测
	萤光X线膜厚计 COSMOS-1X	萤光X线膜厚计:. 采用中文窗口操作系统，操作性简便。 2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。 3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、二层同时测定、元素光谱分析。 4. 油浸式微小焦点X线管，50KV管电压，由上而下垂直照射方式。
	电阻式膜厚计 RST-231	电阻式膜厚计:1.绝缘物上的金属镀层（印刷基板上的铜箔、电镀等）都能在极短时间内（0.7秒）得到高精度的测量。 2.采用4探针探头（kelvin式），不受双面板和金属板之里层及内层影响，可得到高精度测量。 3.应用计算机操作画面大、明亮、清晰。 4.校正、测定、操作很简单，可选择2种测量范围，可测2~120um的金属镀层。
	涡电流式膜厚计 D-20	涡电流式膜厚计 1.水晶振动方式，高稳定性（1%）高精度 2.非破坏快速检测，采用刻度盘指针显示膜厚，操作非常简便迅速，可做全数检查 3.主机轻巧，使用电源采用直交流两用功能，携带方便 4.测试时间短(1秒以内)
	数显示涡电流式膜厚仪	数显示涡电流式膜厚仪1. 主机轻巧，使用电源采用交/直流两用功能，携带方便 2. 以水晶体发振方式，具有测值稳定，不受表面粗糙影响 3. 测量值以数字显示膜厚值，读取非常容易，很适合作样品全数检查 4. 多种测头可供选择，测试不同形状
	计算机型电解式膜厚计 GCT-311	计算机型电解式膜厚计:1. 利用计算机操作性更加提升，机能也更多样。 2. 在微软窗口规格下，数据处理非常容易。 3. 可设定上下限值，当有异常值发生时，测量值由红色表示,并有警示音告知使用者。
	经济型电解式膜厚计 CT-1	经济型电解式膜厚计: 1. 可测量电镀单层、多层、合金层之膜厚。 2. 体积小，功能强，价格低。 3. 专利测量台，操作简便。
	实用型电解式测厚仪 CT-2	实用型电解式测厚仪:1. 内藏微电脑，具有自我诊断机能。 2. 触摸式按键，液晶显示屏，对话式操作。 3. 有64组测量频道记忆，可记忆数据37000个。 4. 镀层最多可设定4层，各层可作分别统计。
	普及型电解式膜厚计 CT-3	普及型电解式膜厚计适用行业：汽机自行车业、机械五金、电镀业、实验室品检单位
	电解式膜厚计 ct-4	电解式膜厚计ct-4:适用行业：汽机自行车业、机械五金、电镀业、实验室品检单位
	贝他线回散式膜厚计 BTC-221	贝他线回散式膜厚计:1.以对话方式操作，非常简易。 2.有40种记忆校正曲线程序。 3.多点校正(2-10点)可提供更高精确度。
	涡电流式膜厚计 DMC-211	涡电流式膜厚计:1．金属上的各种皮膜（铝上氧化膜，铁上镀锌、铬等的电镀、涂装）或非金属上的各种金属（塑胶上的镀层等）可以在短时间内非破坏测量其厚度，适合全数检测 2．由于使用电脑，校正、测定等操作相当简单，可以直接选取各种测量模式。螺丝顶部、线材等小部件和压铸件制品同样可容易测定。
	日本电测测厚仪 COSMOS-2X	日本电测测厚仪规格表 1. X线源：油浸式由上而下垂直照射方式。 2. 检出器：比例计数管。 3. 滤波器：采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。 4. 准直仪：采用五种孔径一体成型式，可自动切换使用。 5. 日本电测测厚仪样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。 6. 多能谱分析器：256高频分析器，光谱自动分析。
	萤光X线膜厚计 EX-3000	萤光X线膜厚计 1. 采用中文窗口操作系统，操作性简便。 2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。 3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、二层同时测定、元素光谱分析。

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