深圳富士康科技集团

荧光X线膜厚仪COSMOS-2X

X线源:油浸式由上而下垂直照射方式
检出器:比例计数管
滤波器:采用Co和Ni双滤波器及数字式滤波器,可单一或同时使用
准直仪:采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用
样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏
多能谱分析器:256高频分析器,光谱自动分析
测量项目:单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析
测量范围:原子序22(Ti)－82(Pb)
测量机能：同一点重复测定机能，输出形式设定，能谱测定
底材补正功能：当样品与标准片的底材不同时，可作底材补正
本机俱有自动安全断电系统功能
由锁匙开关来控制X线输出，以防止外人任意操作
测量部主机尺寸：362(W)×425(D)×521(H)㎜
测量台尺寸:170(W)×100(D)㎜
移动量(X-Y-Z轴):70×70×80㎜
使用电源: 电压:AC100V/220V±10V: 50/60Hz