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主营产品：电解式膜厚计日本电测测厚仪电解液荧光X线膜厚计测厚镀液实用型电解式测厚仪

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膜厚计(测厚仪)

光学显微镜

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理化仪器

荧光X线膜厚计测定条件表

荧光X线膜厚计测定条件表

測定物組合		測量條件		可測量範圍
鍍層	底材	濾波器	能量範圍	可測量範圍
Cr	Fe	無	44 ～53	0.02 ～20 um
	Ni	無	44 ～58
	Cu, Zn, BRS 等	無	44 ～65
Ni (Ni-P)	Fe	無	74 ～89	0.02 ～30 um
	Cu	Co	62 ～89
	BRS	Co	62 ～77
Cu	Fe	無	74 ～96	0.02 ～30 um
Cu	Zn, BRS	Ni	67 ～96	0.02 ～30 um
Zn	Fe	無	74 ～103	0.02 ～45 um
Ag	Fe, Ni, Cu, BRS 等	無	189 ～260	0.02 ～50 um
Sn	Fe, Ni, Cu, BRS 等	無	217 ～285	0.02 ～90 um
Au	Ni	無	92 ～136	0.02 ～8.0 um
Au	Cu	無	102 ～136	0.02 ～8.0 um
Sn-Pb (合金)	Cu	無	Sn 217 ～ 285 Pb 98～ 150	在Pb:10W%時 0.1～50um (會因合金比不同而有改變)
Cr/Ni	Fe	無	Cr 44 ～ 53 Ni 74 ～ 89	Cr 0.01 ～ 5.0um Ni 0.1 ～ 15um
Cr/Ni	Cu	Cr: 無 Ni: Co	Cr 44 ～ 58 Ni 62 ～ 89	Cr 0.01 ～ 5.0um Ni 0.1 ～ 15um
Ni/Cu	Fe	Ni: Co Cu: 無	Ni 74 ～ 89 Cu 80 ～ 96	Ni 0.02 ～ 10um Cu 0.1 ～ 20um
Ag/Ni	Cu	Ag: 無 Ni: Co	Ag 189 ～ 260 Ni 62 ～ 89	Ag 0.02 ～ 5.0um Ni 0.1 ～ 20um
Sn/Cu	Fe	無	Sn 217 ～ 285 Cu 74 ～ 96	Sn 0.05 ～ 4.0um Cu 0.1 ～ 20um
Au/Ni	Cu	Au: 無 Ni: Co	Au 102 ～ 136 Ni 62 ～ 89	Au 0.01 ～ 2.0um Ni 0.1 ～ 20um
Au/Ni	BRS	Au: 無 Ni: Co	Au 106 ～ 136 Ni 62 ～ 77	Au 0.01 ～ 2.0um Ni 0.1 ～ 20um
Ni/Cu	Zn	Ni: Co Cu: Ni	Ni 62 ～89 Cu 67 ～96	Ni 0.02 ～ 10um Cu 0.1 ～ 20um
Sn/Ni	Cu	Sn: 無 Ni: Co	Sn 217 ～285 Ni 74 ～89	Sn 0.05 ～4um Ni 0.1 ～ 20um
Sn/Cu	BRS	Cu: Ni	Sn 217~265 Cu 73~82	Sn 0.05 ～10um Cu 0.1~5 um
Cr/Ni/Cu	Abs	無	Cr 44 ～ 58 Ni 62 ～ 89 Cu 67～96	Cr 0.01 ～ 5.0um Ni 0.1 ～ 15um Cu 0.1 ～ 15 um
Cr/Ni/Cu	Fe	無	Cr 44 ～ 58 Ni 62 ～ 89 Cu 80 ～ 96	Cr 0.01 ～ 5.0um Ni 0.1 ～ 15um Cu 0.1 ～ 20 um

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